<meter id="r9lrp"></meter>

    <delect id="r9lrp"><pre id="r9lrp"></pre></delect>
        <menuitem id="r9lrp"><em id="r9lrp"><meter id="r9lrp"></meter></em></menuitem>
          <menuitem id="r9lrp"></menuitem>
            <ins id="r9lrp"><video id="r9lrp"></video></ins>

              <font id="r9lrp"></font>

                  
                  
                    <ins id="r9lrp"><em id="r9lrp"></em></ins>

                    <dfn id="r9lrp"></dfn>
                        <font id="r9lrp"></font>

                        Leica EM TIC 3X 三離子束切割儀具有哪些優勢特點?

                        更新時間:2021-12-06      點擊次數:1001
                        離子束切割儀是一種用于物理學領域的工藝試驗儀器,用于樣品的截面制備及平面拋光。Leica EM TIC 3X 三離子束切割儀可以靈活選擇多種樣品臺,不僅適用于高通量實驗,也適合于特定制樣需求實驗室。儀器可用來制備橫切面和拋光表面,用于掃描電子顯微鏡 (SEM)、微觀結構分析 (EDS、WDS、Auger、EBSD) 和 AFM 科研工作。
                         
                        Leica EM TIC 3X 三離子束切割儀具有哪些優勢特點?
                         
                        1、*的三離子束系統,可獲得更好的截面處理質量,快速獲得寬且深的切割區域,大大降低工作時間。并可實現在一次處理過程中處理 3 個樣品。因此對有高通量需求的實驗室,徠卡EM TIC 3X是更理想的解決方案。
                         
                        2、樣品托:多種多樣的樣品托,適合于各類尺寸樣品
                         
                        3、可裝配系統:根據樣品制備需要,可以有針對性地在徠卡EM TIC 3X上裝配一體化設計樣品臺——標準樣品臺、多樣品臺或冷凍樣品臺。
                         
                        4、樣品TOPO結構清晰可見:除了剖面切割,使用同一樣品托還可對樣品進行清潔及增強襯度的功能。
                         
                        5、冷凍樣品臺:針對溫度敏感型樣品如橡膠或水溶性高分子聚合纖維等,可以使用冷凍樣品臺對樣品進行低溫下處理,獲得高質量處理結果。樣品托和擋板的溫度都可達到-150℃。
                        微信掃一掃
                        版權所有©2024 北京佳源偉業科技有限公司 All Rights Reserved    備案號:京ICP備2021037741號-1    sitemap.xml    管理登陸    技術支持:化工儀器網    
                        人人操正在播放_亚洲欧美小视频_黄片欧美视频免费_91自拍偷拍网